SD卡温度循环试验测试内容，SD卡温度循环试验测

发布时间：2020-07-07 热度：

SD卡温度循环试验测试哪里可以做？SD卡温度循环试验测试机构。

亿博检测技术是已获得CNAS和CMA资质认可的亿博检测第三方检测机构，实验室配备高低温（湿热）试验箱，可提供SD卡温度循环试验测试服务，并可出具温度循环试验测试报告。

SD卡温度循环试验测试内容
1. 测试设备
高低温（湿热）试验箱
高低温湿热试验箱适用于航空亿博产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元器件，在高温、低温或湿热环境下的各项性能指标的检验。

2. 实验室环境条件
温度：25℃±5℃
相对湿度：55%±15%（RH）

3. 测试参考文件
此测试条件依据委托客户要求的规范

4. 测试条件
待测物为非运作状态；
测试温度范围：-55℃至+125℃；
驻留时间：每个高低温度测试点各停留10分钟；
温度转换时间：5分钟；
循环时间：30分钟；
循环数：100循环。

5. 测试结果
测试后，产品功能及外观检测正常。